Conference Talk
Test Intelligence: Lücken schließen und überflüssige Tests entfernen, um mehr Fehler in weniger Zeit zu finden
Test Intelligence: Lücken schließen und überflüssige Tests entfernen, um mehr Fehler in weniger Zeit zu finden
Test Intelligence: Lücken schließen und überflüssige Tests entfernen, um mehr Fehler in weniger Zeit zu finden
Zusammenfassung

Viele Teams müssen immer mehr Funktionalität in immer weniger Zeit testen. Historisch gewachsene Test-Suites stoßen dabei oft an ihre Grenzen, da sie gleichzeitig Zuviel und Zuwenig testen. Zuviel, da sie Tests enthalten, die Kosten erzeugen, aber kaum Mehrwert gegenüber ähnlichen Tests bieten. Zuwenig, da trotzdem wichtige Funktionalität ungetestet bleibt.

Im Vortrag stelle ich Analysetechniken vor, um diese Probleme im eigenen System aufzuzeigen. Historienanalyse des Versionskontrollsystems zeigt, wo in der Vergangenheit im System am häufigsten Fehler aufgetreten sind. Test-Gap-Analyse deckt auf, welche Code-Änderungen noch ungetestet sind. Und Pareto-Test-Analysen identifizieren die Tests mit dem schlechtesten Kosten-Nutzen-Verhältnis. Ich stelle hierzu jeweils die zugrundeliegenden Forschungsarbeiten und unsere Erfahrungen aus dem Praxiseinsatz vor.

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